植物冠層分析儀是通過菜單操作的線性光合有效輻射測量儀，用于測量植物冠層對光線的攔截，進行冠層光能資源調(diào)查，研究作物的生長發(fā)育、產(chǎn)量品質(zhì)與光能利用間的關系。可應用于農(nóng)業(yè)生產(chǎn)和農(nóng)業(yè)科研，為進行冠層光能資源調(diào)查，測量植物冠層中光線的攔截，研究作物的生長發(fā)育、產(chǎn)量品質(zhì)與光能利用間的關系，本儀器用于400nm-700nm波段內(nèi)的光合有效輻射(PAR)測量、記錄。
 

　　植物冠層分析儀采用了冠層孔隙率與冠層結構相關的原理。它是根據(jù)光線穿過介質(zhì)減弱的比爾定律，在對植物冠層定義了一系列假設前提的條件下，采用半理論半經(jīng)驗的公式，通過冠層孔隙率的測定，計算出冠層結構參數(shù)。這是目前世界上各種冠層儀一致采用的原理。在上述原理下，采用的是對冠層下半球圖像分析測量冠層孔隙率的方法，該方法是各類方法中(精)確和省力、省時、快捷方便的方法。
 

　　本儀器可測算植物冠層的太陽直射光透過率、天空散射光透過率、冠層的消光系數(shù)，葉面積指數(shù)和葉片平均傾角等，可用于農(nóng)作物、果樹、森林內(nèi)冠層受光狀況的測量和分析可用于不同植物群體結構的比較；可對農(nóng)田作物群體生長過程進行動態(tài)監(jiān)測適用于生態(tài)學野外植物群體動態(tài)監(jiān)測的研究與教學；也適用于農(nóng)業(yè)、園藝、林業(yè)領域有關栽培、育種、植物群體對比與發(fā)展的研究與教學。
 

　　通過了解植物的生長情況，及時做出相應的調(diào)整，對于提高作物產(chǎn)量意義重大，通過確定植物冠層小官參數(shù)，各種植物冠層透光率及其隨時間變化的規(guī)律，在農(nóng)田生態(tài)監(jiān)測系統(tǒng)中的應用工作提供了便利，可以更好的研究作物的生長長勢、生產(chǎn)產(chǎn)量和品質(zhì)與光能利用之間的聯(lián)系，更好的實現(xiàn)光能的利用率，為高效農(nóng)業(yè)生產(chǎn)提供依據(jù)。